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JCP-HL 智能回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品概述 JCP-HL智能回路電阻測(cè)試儀采用*大功率開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和*電子線路精制而成。是高、低開(kāi)關(guān)、電纜電線及焊縫接觸電阻的測(cè)試儀器。其電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB736所推薦的標(biāo)準(zhǔn)直流，可在標(biāo)準(zhǔn)電流的情況下測(cè)得被試品的電阻值。本儀器具有體積小、重量輕、抗干擾能力強(qiáng)、精度高、操作方便、保護(hù)功能完善等特點(diǎn)。

KDHL-100A回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介 Product Introduction 回路電阻測(cè)試儀是科電中威電氣采用*大功率開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和*電子線路精制而成。是高、低開(kāi)關(guān)、電纜電線及焊縫接觸電阻的測(cè)試儀器。其電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB736所推薦的100A直流，可在100A電流的情況下測(cè)得被試品的電阻值。本儀器具有體積小、重量輕、抗干擾能力強(qiáng)、精度高、操作方便、保護(hù)功能完善

SFHL-100P高精度回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介 目前，電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋測(cè)量接觸電阻，而這類電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷。在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無(wú)法真實(shí)的反映接觸電阻值。為此，新電力部標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4—2004《電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件：回路電阻測(cè)試儀》和新版檢定規(guī)程JJ

SFHL-Z智能回路電阻測(cè)試儀（100A）產(chǎn)品簡(jiǎn)介 回路電阻測(cè)量是電氣測(cè)試的重要內(nèi)容，根據(jù)《中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)》DL/T845.4-2004的標(biāo)準(zhǔn)，參照《電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件第4部分：回路電阻測(cè)試儀》的要求，本公司研制了全新SFHL-Z型回路電阻測(cè)試儀，可方便地進(jìn)行高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值、高低壓電纜線路的直流電阻值等純阻性試品的測(cè)量。

SFHL-Z智能回路電阻測(cè)試儀（100A）產(chǎn)品簡(jiǎn)介 回路電阻測(cè)量是電氣測(cè)試的重要內(nèi)容，根據(jù)《中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)》DL/T845.4-2004的標(biāo)準(zhǔn)，參照《電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件第4部分：回路電阻測(cè)試儀》的要求，本公司研制了全新SFHL-Z型回路電阻測(cè)試儀，可方便地進(jìn)行高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值、高低壓電纜線路的直流電阻值等純阻性試品的測(cè)量。

SFZRV-III 智能回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介 智能回路電阻測(cè)試儀（200A）采用*大功率開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和*電子線路精制而成。是高、低開(kāi)關(guān)、電纜電線及焊縫接觸電阻的測(cè)試儀器。其電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB736所推薦的標(biāo)準(zhǔn)直流，可在標(biāo)準(zhǔn)電流的情況下測(cè)得被試品的電阻值。本儀器具有體積小、重量輕、抗干擾能力強(qiáng)、精度高、操作方便、保護(hù)功能完善等特點(diǎn)。